단일 모드 섬유 405–940 nm 테스트를위한 광원

이 모델에서 405–940 nm의 단일 모드 섬유를 테스트하기위한 광원은 반도체 레이저 칩 타입 F-P를 사용하며 전문적으로 개발 된 제어 및 온도 제어 체계는 레이저의 안전한 작동을 제공합니다. 파장의 전체 범위, 안정적인 출력 전력 및 스펙트럼, 단일 -모드 섬유, 우수한 품질의 광 지점 (LP01 모드). 이 장비는 광범위한 파장 조절 가능, 스펙트럼 라인의 좁은 폭, 작동 용이성 및 높은 안전성으로 구별됩니다. 광섬유 센서, 광학 장치 테스트, 반도체 감지, 기계 비전 등과 같은 영역에서 널리 사용될 수 있습니다.

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제품 설명

요약:

이 모델에서 405–940 nm의 단일 모드 섬유를 테스트하기위한 광원은 반도체 레이저 칩 타입 F-P를 사용하며 전문적으로 개발 된 제어 및 온도 제어 체계는 레이저의 안전한 작동을 제공합니다.

파장의 전체 범위, 안정적인 출력 전력 및 스펙트럼, 단일 -모드 섬유, 우수한 품질의 광 지점 (LP01 모드). 장비는 광범위한 파장 조절 가능, 스펙트럼 라인의 좁은 폭, 작동 용이성 및 높은 안전성으로 구별됩니다. 광섬유 센서, 광학 장치 테스트, 반도체 감지, 기계 비전 등과 같은 영역에서 널리 사용될 수 있습니다.

소개:

405-940 nm의 단일 모드 섬유를 테스트하기위한 광원 모델에서 반도체 레이저 칩 타입 F-P 및 온도 조절 구성 요소를 사용하여 레이저의 안전한 작동을 보장합니다. 특수 섬유 -광학 라인을 따라 투과하기 위해 여러 파장에서 고품질 광학 신호를 꾸준히 생성합니다. 장점에는 유연한 파장 선택, 정확한 밝기 조정 및 작동 용이성이 포함됩니다. 광섬유 센서, 광학 장치 테스트, 반도체 제어 및 기계 비전에 사용하기에 적합합니다. 다양한 정밀 제어 작업에 대한 신뢰할 수있는 지원을 보장합니다.

특수성 :

단일 -지식 광섬유 -파이버 출력;

안정적인 힘;

라운드 라이트 스팟; 완전 섬유 DFB- 재조성 공진기;

애플리케이션:

포인트 표시;

심상;

테스트 장치 ；

전기 광학 특성 (t = 25 ℃) :

매개 변수	차원	전형적인 의미	메모
작업 파장	nm	405–940	± 5 nm
작동 방식	-	CW	연속 조명
출력 전원	MW	5–90	파장에 따라 다릅니다
전원 조정 범위	-	10–100%
전력 불안정성 (단기 15 분)	DB	≤ ± 0,02	등가 ≤ ± 0.5%
전력 불안정성 (오랜 시간 8 시간)	DB	≤ ± 0,05	등가 ≤ ± 1.2%
섬유의 유형	-	SMF	무작위 편광
피그 테일 커넥터 유형	-	FC/APC	사용자 정의 가능
치수	mm	260 (w) × 280 (d) × 120 (b)	데스크탑
치수	mm	125 (w) × 150 (d) × 20 (b)	기준 치수
전원 공급 장치	В	교대 전류에서 100-240, <30 와트	데스크탑
전원 공급 장치	В	직류에서 5, <15 w	기준 치수
통신 인터페이스	-	DB9 (Nest) (RS232)
작동 온도	℃	-5–+35 ° C
습도/온도	℃	-0–+70%